精密半導体テストソケット

フルプロセス カスタムソケットサービス
台湾現地テクニカルサポート体制

バーンインソケット、ATEソケット、個別温度制御ソケットなど、高性能テストソケットの包括的なラインナップを提供。BGA・QFN・LGA・SOP・その他主要パッケージタイプに対応します。設計・シミュレーションから量産まで、NeoViewがフルターンキーソリューションをワンストップで提供します。

100+
累計取引先企業数
4〜5週
標準設計〜納品リードタイム
3,000 ㎡
自社精密製造ファシリティ

コアアドバンテージ

ソケットソリューションを選ぶ理由

完全内製化対応

設計・シミュレーション・精密機械加工・組立・基板レベルデバッグ・量産まで、すべて自社内で完結。外注なし。

台湾現地での迅速対応

NeoViewの台湾現地技術チームに直接アクセス可能。中間業者を排除し、お客様の要求変化に最速で対応します。

一元品質責任体制

設計から納品まで、品質責任を一社が担うことで、サプライヤー分散に起因する不良リスクを排除します。

製品シリーズ

3つのコアソケットカテゴリー

バーンインソケット

バーンイン / HTOL / HASTテスト向け

クラムシェル・プルロッド・ノブ・プッシュダウンの各クランプ方式に対応。
チップ電力要件に合わせたヒートスプレッダーおよびグランド銅ブロックも提供可能。

シングル / デュアル / クワッドサイト保証:5サイクルまたは1年射出成形 / 機械加工筐体
ATEソケット

自動テスト装置向けソケット

高品質な日本製・韓国製ポゴピンを使用。常温・高温・低温/高温ATEテストに対応し、完全な信号シミュレーションと検証を実施。

RF高周波対応シングル / デュアルラッチ ノブ手動カバー信号シミュレーションモデル
個別温度制御ソケット

HPB5C / LC2テスター専用

内蔵ヒーターロッドと温度センサーによるソケット独立温度制御。最大設計電力160Wまで対応。

熱シミュレーション検証済プルロッド設計大電力チップ対応
高ピンカウントソケット

カスタム高ピンカウントBGAソケット

BGA2304以上の高ピンカウント要件に対応したカスタム設計。ノブまたはレバープレスクランプを選択可能。

最小ピッチ 0.35mmレバー / ノブクランプカスタム設計対応

対応パッケージ

主要ICパッケージタイプを網羅

BGA CSP · FCCSP · WLCSP QFN · DFN LGA SOP QFP ピッチ 0.35 / 0.4 / 0.5 / 0.65 / 1.0 / 1.27 mm…

プロセス能力

設計から量産まで 完全納品フロー

1

機械設計

2

熱 / 信号シミュレーション

3

精密機械加工

4

精密組立

5

基板レベルデバッグ

6

パイロット & 量産

シミュレーション & 検証

ソケット + IC + PCB 統合シミュレーション能力

熱シミュレーション

ヒートスプレッダー・ヒーターロッド・チップごとの電力散逸をマッチングシミュレーション。高電力バーンインテスト中のはんだボール溶融を防ぐため、はんだボールおよびポゴピンの温度上昇を解析します。

信号シミュレーション

挿入損失(S21)・反射損失(S11)・TDR・クロストークの完全解析、およびソケット信号シミュレーションモデルを提供。RF・高周波テスト要件に対応します。

技術仕様

主要スペック一覧

仕様項目 詳細
標準リードタイム 4〜5週間(設計・機械加工・表面処理・組立・品質検査を含む)
バーンインソケット寿命 5テストサイクルまたは1年間を保証(いずれか早い方)
ポゴピン動作温度 SUS304スプリング:-55°C ~ +150°C
最大電流(2秒持続) 0.35ピッチ → 4.0A | 0.4ピッチ → 6.0A | 0.5ピッチ → 7.5A
最大設計電力 最大160W(個別温度制御、HPB5Cテスター)
測定装置 Keyence IM-8005 画像測定器 · Hexagon CMM 三次元測定機

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